電性故障分析

I-V特性量測

 

 

電性量測的目的,是為了驗證及量測半導體電子元件的參數與特性,如電壓-電流、電容-電壓特性曲線、電阻、電容、電感值量測或訊號波形等,藉此了解元件的失效行為以推測可能的故障機制,並決定後續的分析動作。

閎康亦針對chip level提供硬針及軟針(主要針對線路修補後之電性量測及驗證)之探針量測服務,配合probe station與針座的架設,可同時點六根針,probe station上配有Laser cutting system,可做為定位之用。

 



圖-1 (a) 半導體參數分析儀(HP4156C) ; (b) 信號/函數產生器(HP3325A)
圖-2 (c) 高壓電源供應器(Keithley 2410) ; (d) 三輸出電源供應器(E3631A, 6V/5A, +/-25V/1A)
圖-3 (e) 數位電錶(34401A) ; (f) 示波器(DSO-X 3104A)
圖-4 (g) 直流電子負載(DC Electronic Load 63600) ; (h) LCR錶(HP4275A)
圖-5 (i) 高功率可程式波形記錄器(Tektronix 370A)
 

 

極低的漏電流測量(例如光二極體或太陽能電池的暗電流測量),CMOS電路,雙極性元件,BiCMOS IC 的半導體參數測量(或者是Spice參數測量),開/短路試驗,C-V 測量,電感測量,和 IC 直流/交流測試。
圖-6 (a) NMOS Vds-Ids特性曲線 ; (b) PMOS Vds-Ids特性曲線
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