活動消息 / 2020-02-27
【技術發表會】閎康科技 2020年第一季技術發表會

【閎康科技 2020年第一季技術發表會】

 

閎康科技於2月19日舉辦了2020年第一季的技術發表會,此次發表會各演講者使出渾身解數,發揮其專業領域專長,透過各種實驗優化測試結果驗證,力搏得獎機會,以下為本季精彩擷取!

 

✔ 對於TEM試片易被電子束影響的現象,閎康科技採用 low current 拍攝方式,並優化拍照參數,成功獲致平順清楚的影像並得到客戶的肯定與信任!

✔ 至於在 XRD 晶格方向分析方面,除了現有晶格資料以外,亦可搭配一些其它分析儀器如EDS、TEM、AFM、XPS、SIMS、SRP、FTIR等,提供客戶一條龍服務以提供客戶更精確且全面的結果。

✔ 此外故障分析處亦針對時下 SiC 材質的各種解析方式及結果做了一些完整的說明,對其它領域的特殊材料也可在製備後做分析,將 SEM 設備發揮更大的效能。

 

§最佳簡報獎§

TEM處 / 黃旭暉

發表主題:Low Current拍攝技術優化

 

§最佳台風獎§

表面分析處 / 林怡辰

發表主題:XRD 介紹與整合性的分析應用

 

§最佳人氣獎§

故障分析一處 / 陳怡妁

發表主題:SEM 特殊分析經驗探討與分享

 
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