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時域反射儀 (TDR)

技術原理

當一個電訊號在某一傳輸路徑傳送時,若傳輸路徑中發生阻抗變化,則一部分訊號會被反射,而另一部分訊號會繼續沿傳輸路徑傳輸。時域反射術(Time Domain Reflectometry, TDR)就是利用這樣的特性,藉由送出一個階梯電壓變化之訊號並測量反射訊號的電壓幅度,從而計算出阻抗的變化。此外,藉由量測訊號反射點到發射點的時間差,就可計算出傳輸路徑中阻抗變化點的位置。

 

現今TDR已經成為一種重要的分析技術應用於IC封裝的故障定位,此種技術可以搭配其它的分析技術,如超音波掃瞄顯微術(Scanning Acoustic Tomography, SAT)及 X-光顯微術(X-ray microscopy),進行更精確的故障定位分析。

 

 

 

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