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企业社会责任报告书

X射线萤光分析仪 (XRF)

技术原理

XRF是使用高能量X光或伽玛射线照射样品,使样品组成原子之内层轨域电子被激发成带能量之光电子,使内层轨域产生一个空洞,外层电子会填补内层空缺的电子位置,由于能阶之间的能量差而发射出特性X光,称为X光萤光(X-ray Fluorescence,XRF)。

 

不同的元素会放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波长特性,检测器(Detector)接受这些X光,再由仪器软体系统将其转为对应的信号;可用于元素分析和化学分析,特别是在研究金属、玻璃、陶瓷和建筑材料,以及地球化学研究、法医学、电子产品进料品管(EU RoHS)和考古学等领域。

 

可携式X射线萤光分析仪具有手持的便利优势,可于现场进行快速检测,对于昂贵或不易搬运的样品,因考量其经济性和安全性,即非常适合使用;可应用于机场检查或反恐安全扫描、产品的真伪检测、环境探勘、法规要求的材料规格、即时品质管制检测等。

 

  • 快速测量微小区域中的微量金属或薄膜
  • RoHS检测模式具形状大小、厚度、位置补正功能,提升量测准确度
  • 自动判别选取标准曲线功能
  • 提供塑料专用软体,可排除因样品尺寸、厚度、形状、放置位置或与侦测器相对位置等差异所造成之误差
  • 内建无卤规范之Br、Cl 标准检量线,可精确定量
  • 提供样品元素自动图谱自动定性、定量元素分析
  • 可于十秒完成对 0.2mm x 0.2mm 面积中之 Au/Ni/Cu(金/镍/铜)等薄膜多镀层的镀层厚度测量

 

 

 

分析应用

  1. 非接触与非破坏分析
  2. 分析元素范围镁(Mg)-铀(U),侦测极限可达ppm等级
  3. 没有样品大小限制,液体、粉体、固体皆可分析
  4. 印刷电路板、太阳能电池之快速扫瞄成份分析
  5. 膜厚测定
  6. 金属合金牌号分析(PMI)、八大贵金属分析、有害物质分析(RoHS)、无卤素分析
  7. 分析土壤/环境重金属分析
  8. 油品分析

 

 

 

 

机台种类


桌上型 X射线萤光分析仪 (Hitachi EA 6000VX)


可携式X射线萤光分析仪 XRF

 

 

应用实例

 

 

 

高速扫描测量模式

RoHS检测

 

物料品质能谱差异

 

 

 

 

 

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