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时域反射仪 (TDR)

技术原理

当一个电讯号在某一传输路径传送时,若传输路径中发生阻抗变化,则一部分讯号会被反射,而另一部分讯号会继续沿传输路径传输。

 

时域反射术(Time Domain Reflectometry,TDR)就是利用这样的特性,藉由送出一个阶梯电压变化之讯号并测量反射讯号的电压幅度,从而计算出阻抗的变化。此外,藉由量测讯号反射点到发射点的时间差,就可计算出传输路径中阻抗变化点的位置。

 

现今TDR已经成为一种重要的分析技术应用于IC封装的故障定位,此种技术可以搭配其它的分析技术,如超音波扫瞄显微术(Scanning Acoustic Tomography,SAT)及X-光显微术( X-ray microscopy),进行更精确的故障定位分析。

 

 

 

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