企业社会责任

• 董事长的话
• 公司治理
• 利害人关系专区
• 员工关怀与发展
• 社会公益
• 职业安全卫生
• 永续环境
• 报告书下载

可靠度测试服务 (RA)

• 可靠度测试服务 (Reliability Test service)
• 元件可靠度服务
  • IC寿命试验 与 ELFR
  • 环境应力试验(Environmental Stress Test)
  • 机械应力试验(Mechanical Stress Test)
  • PCB 可靠度试验
  • LED产品寿命试验
• 板阶可靠度服务
  • 板级可靠度服务(Board Level Reliability Service)
  • 表面黏着技术服务
• 系统可靠度服务
  • 环境应力试验（Environmental Stress Test）
  • 机械应力试验 (Mechanical Stress Test)
  • 环境应力筛选( Environmental Stress Screening)
• 车用元件可靠度服务
• ESD测试与设计服务

非破坏性分析

• OM
• 3D OM
• 2D X-ray
• 3D X-ray
• SAT
• 白光干涉仪 (OP)
• 时域反射仪 (TDR)

电性失效分析 (EFA)

• 电性量测
• PEM-CCD
• PEM-InGaAs
• OBIRCH
• Thermal EMMI
• C-AFM
• Nano Probing
• EBIC/EBAC

FIB线路修补

• FIB电路修补

样品制备处理

• TEM试片制备
• 化学蚀刻去封胶
• 雷射蚀刻去封胶
• 干式蚀刻及研磨去层次
• IC封装打线服务

材料分析 (MA)

• SEM
• TEM
• FIB
• DB P-FIB
• EBSD
• EELS

表面分析 (SA)

• 二次离子质谱仪(SIMS)
• 展阻分析仪 (SRP)
• 扫描式电容显微镜(SCM)
• X光光电子能谱仪(XPS)
• X射线萤光分析仪 (XRF)
• 欧杰电子能谱分析仪 (FE-AES)
• 原子力显微镜 (AFM)
• 薄膜厚度轮廓测量仪 (α-step)
• 光学膜厚量测仪 (Thin Film Analyzer )
• 傅立叶转换红外光谱仪 (FTIR)
• 高解析X光绕射分析仪 (HRXRD)

物理化学特性分析 (CA)

• 化学质谱分析
  • 化学质谱分析
  • 感应耦合电浆质谱分析仪 (ICP-MS)
  • 液相层析仪／质谱仪 (LC-MS/MS)
• 物理化学特性分析
  • 物理化学特性分析
  • 动态光散射粒径分析仪 DLS
  • Zeta 电位分析仪 Zeta Potential
  • 热重量分析仪 TGA
  • 热微差扫描分析仪 DSC
  • 超效液相层析仪 UPLC

整合性分析

• 故障分析流程
• 整合性专案服务
• 竞争产品分析
  • IC拍照
  • Benchmark Analysis of Samsung Galaxy S4
  • Benchmark Analysis of Sony Xperia Z Ultra

IC

• DRAM
• CPU
• IC封装/测试应用实例
• FIB线路编修
• IC产品电性故障EFA的应用实例
• 其他应用 FLASH, LOGIC, POWER, SiGe

LED

• LED产业应用方案
• Wafer Level, Chip Level

生医纳米

• 生医样品制备及影像观察
• 奈米产业应用方案

太阳能

• 太阳能电池分析解决方案
• 太阳能电池分析实例

其他

• TFT-LCD industry
• HD Disk
• CMOS image sensor
• DVD structure
• Nano materials
• Metal Diffusion in Glass

财务讯息

• 每月营收报告
• 每季营收报告
• 年报

公司治理

• 董事会
• 董事会重大决议
• 公司治理法规
• 内稽组织运作
• 公司组织

股东服务

• 股东会
• 股利信息
• 股东结构

证书

• ISO 9001
• IECQ 17025
• ISO/IEC 27001
• ANSI/ESD S20.20
• TUV Nord Recognition (Automotive)
• ISO/IEC 15408

窗口

• SA
• ESD
• EFA
• Form

软件

• 软件

MA-tek FTP

• MA-tek FTP

企业社会责任报告书

• 企业社会责任报告书

新闻中心

• 闳康快讯
• 产品新讯
• 活动消息
• 媒体报导