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FIB线路修补

材料分析 (MA)

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软件

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企业社会责任报告书

LED产业应用方案

分析类型

适用项目

 

可靠度测试

环境测试、电气测试、亮度测试

X-光射线检测服务

X-光射线非破坏性检测

故障定位

热显像、红外线微光显微镜、雷射光束电阻异常侦测

表面型态

光学干涉形貌仪、扫描式电子显微镜、穿透式电子显微镜

薄膜种类及厚度

扫描式电子显微镜/X光微区分析、穿透式电子显微镜/X光微区分析

晶片结构

扫描式电子显微镜/X光微区分析、穿透式电子显微镜/X光微区分析

晶体缺陷观察(差排)

穿透式电子显微镜

元素深度分布图

穿透式电子显微镜/扫描式电子显微镜、二次离子质谱仪

污染物鉴定分析

欧杰电子显微镜、X-光学电子能谱分析仪

 

 

 

 

可靠度测试

可靠度测试服务

测试类型

    适用项目
 

Environmental Test

  • Temperature Cycling Test (TCT) & Thermal Shock Test (TST)
  • High Temperature Storage Test (HTST) & Low Temperature Storage Test (LTST)
  • Temperature & Humidity Storage Test (THST)
  • Temperature & Humidity with Bias Test (THB Test)
  • Vibration Test / Mecharical Shock Test / Drop Test
  • Pre-conditionong Test (MSL 1-6) & Reflow Test
  • Solderability Test
  • Autoclave (AC) Test & PCT (US-HAST) Test

Electrical

Test

  • Operation Lift Test (OLT) & Bias Lift Test (BLT)
  • High Temperature Reverse / Gate Bias (HTRB / HTGB) Test
  • Highly Accelerated Stress Test (HAST)
  • High Humidity High Temperature Reverse Bias (H3TRB) Test
  • Power & Temperature Cycle (PTC) Test
  • Hot Carrier Test (HCI)
  • Deliverables for recommended board design

LED Lighting

Test

  • Temperature & Humidity Storage / On-off Plus Operation
  • High / Low Temperature Storage / On-off Plus Operation
  • Highly Accelerated Stress Test / On-off Plus Operation
  • Thermal Shock (Air to Air) / On-off Plus Operation
  • High / Room / Low Temp. Burn-in Test / On-off Plus Operation

 

可靠度测试设备

 

静电测试、电性栓锁测试、打线

 

LED静电测试

 

 

 

X-光射线检测服务

X-光射线显像

 

LED的X-光射线检测

 

 

 

故障定位

热显像、红外线微光显微镜、雷射光束电阻异常侦测

EMMI/InGaAs,OBIRCH 缺陷侦测定位

 

EMMI/InGaAs,OBIRCH 于故障分析应用

 

 

 

表面型態

光学干涉形貌仪

 

扫描式电子显微镜 


扫描式电子显微镜俯视图;LED晶粒表面粗化观察

 

 

 

 

晶片结构及薄膜厚度

扫描式电子显微镜

扫描式电子显微镜横切面图

 

 

双粒子束断层扫描


 双粒子束断层扫描精密纵切面图

 

 

穿透式电子显微镜


穿透式电子显微镜纵切面图

 

 

(a)MQW and super lattice;(b)HR TEM of MQW;(c)PSS and buffer layer

 

 

 

晶体缺陷观察(差排)

穿透式电子显微镜(磊晶缓冲层的晶体缺陷)

 


指定区域拍摄穿透式电子显微镜,观察排差的密度和排差的走向


 

 

 

 

物质深度分布图

穿透式电子显微镜/X光微区分析,二次离子质谱仪

EM/EDX Line Profile – Blue LED – MQW and Superlattice


在超晶格层的In%可达到0.2at%的鉴定极限

 

 

Elemental Depth profile by SIMS


二次离子质谱仪可以有效改善纵深的解析度,闳康科技每日可提供5-10个试样的分析服务