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CSRレポート

プロジェクトサービス

1.特許権の調査

先端エレクトロニクス製品の回路配置や製造技術において、ハイテク企業の著作権を保護するためには、特許権侵害の有無を確認することが何よりも重要です。

 

このことは、クレームに関する戦術的な分析や技術報告書の作成にも影響を与えます。MA-tekはこの分野で多くの経験を持っており、お客様にこのサービスを直接提供することができ、また顧客が指定する法律事務所と協力することもできます。

 

 

2.Third Party Witness Report(第三者立会人レポート)

MA-tekは、2004年6月にISO9000およびIECQ17025の認証を取得しました。MA-tekのラボは、材料分析、電気的故障解析、ESDおよび信頼性試験において、お客様から非常に高い評価を受けています。

 

当社の卓越した技術チームは、高レベルの分析で個々のケースに対応することができます。ISO/IECQで定められた規定のフォーマットに沿った完璧な分析により、公平で信頼性の高い報告書を発行することができます。

 

 

3.ラボの立ち上げ

Ma-tekは、お客様の仕様に合わせたラボの立ち上げをお手伝いします。プロジェクトをお受けする前に、どのような機器が必要か、価格の見積もり、購入方法、技術トレーニング、実験室の管理方法など、実験室のスキームを提案します。

 

 

4.技術移転

Ma-tekは、お客様が特定の分析技術を確立するための技術移転を喜んでお受けします。私たちは一連の教育トレーニングや実用的な機器操作講習を行うだけでなく、標準操作手順やその他の技術情報も提供します。

 

 

5.トレーニングコース

お客様に分析技術を理解していただくために、MA-tekは下記のトレーニングコースを提供しています。

 

  1. 材料分析の紹介:OM/SEM/FIB/TEM/SIMS/EDX/Auger ...などの紹介

  2. TEM試料作製:Si/TFT/III-V族の試料作製,平面TEM試料作製

  3. TEMイメージングと動作原理:機器整備方法の紹介,TEMイメージング技術の基本原理,EELS,EDX

  4. SEMイメージングとその動作原理:機器整備の紹介,SEMイメージング技術の基本原理,EDX/WDX/BSE

  5. 信頼性試験の紹介:試験装置の紹介,試験原理と規格の紹介

  6. FIBの紹介と応用:回路修正技術の原理とその応用,FAにおけるFIBの限界と応用

  7. 故障解析の紹介:EFAツール(EMMI/OBIRCH/InGaAS/HP4156C/C-AFM...etc)の紹介EFAとPFAの原理,FAフローの紹介,事例の紹介

  8. 事例紹介:IC/TFT/LED/ナノ材料/太陽電池/パッケージング

 

担当者

名古屋ラボ|営業部

長谷川文哉

: 052-705-1688 ext:1

: 080-5322-2380

: sales_nagoya@ma-tek.com