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TEM

方式

透過電子顕微鏡(TEM:Transmission Electron Microscope) は原子レベルの解像度を持ち、物質解析には非常に強力なシステムであり、簡単に"ナノの世界"に到達することができます。

物質の形態観察に広く使用されるとともに、結晶構造解析、元素分析も可能で、応用分野は半導体からセラミックス、合金、高分子、生物医療材料と多岐にわたります。

 

MA-tekは無料試料配送を含め、365日、24時間、試料到着後2日以内にデータ報告が可能なプロレベルサービスを提供しており、お客様の要求に最高品質、短納期、適正価格で応え、研究開発を支援いたします。

 

TEM Talos

TEM Talos

 

 

 

保有装置

  • フィリップスTecnai F-20(電界放射電子銃)TEM3台
  • HAADF STEM検出器
  • 電子エネルギー損失分光(EELS)
  • Gatan925二軸傾斜試料ホルダー
  • EDX 点分析、線分析、面分析
  • STEM像
  • イオンミリング(PIPS)
  • 保護膜成膜装置(C、Al、Pt、SiO2、・・・)

 

 

担当者

名古屋ラボ|営業部

長谷川文哉

: 052-705-1688 ext:1

: 080-5322-2380

: sales_nagoya@ma-tek.com