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CSRレポート

TDR

方式

時間領域反射率測定(TDR)は複雑なICパッケージの故障箇所を絞り込むために欠かせないツールです。 走査型音響トモグラフィー(SAT)やX線顕微鏡による詳細な解析のためには時間領域反射率測定(TDR)が必要です。

 

同種の媒体(例:Cuワイヤー)上を伝搬する電気信号が障壁(欠陥や局所的なインピーダンス変化)に直面すると、信号の一部が反射します。 時間領域反射率測定(TDR)はこの現象を利用しています。 この技術は、階段状の電圧の信号を金属線に送り、反射した信号を測定することによって実行されます。 反射信号の電圧差から伝送線路に沿ったインピーダンスの変化を計算できます。 さらに、センサーで入力信号と反射信号の間の経過時間を取得し、対応する反射位置を特定できます。

 

 

今日では、TDRはICチップの故障解析(FA)にとって重要な技術です。 この解析は、走査型音響トモグラフィー(SAT)やX線顕微鏡法などの他の技術と組み合わせて、より詳細な非破壊検査を実現することができます。

 

 

担当者

名古屋ラボ|営業部

長谷川文哉

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