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CSRレポート

ガラス中の金属拡散

 

 

  

TEMによる詳細な界面の観察とSEM/EDSによる迅速な分析

 

 

SIMSによる精密なデプスプロファイル

  • 拡散深さはSIMSで約12μmであることがわかり、SEM/EDS分析で再確認しました。

  • ガラスと金属の界面は、CoとNiの濃度から確定できます。

  • SIMSの検出感度は他の分析機器よりも優れており、拡散深さをより深く測定できます。