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高解析X光绕射分析仪 (HRXRD) 分析服务

Bruker Discover D8 为一多功能高解析X光绕射分析仪, 除了基本的粉末绕射与薄膜低掠角绕射的分析功能外,还拥有三晶(triple-crystal)的高分辨解析器,可以针对单晶的薄膜进行结晶性分析,以及化合物的组成或浓度分析;还可以进行倒晶格空间分布(RSM)的分析,由此可以得到磊晶晶格排列堆栈是否有受到挤压的讯息。对于大多数的薄膜应用可以进行多晶成份的相鉴定,或是单/多晶的结晶晶粒尺寸分析。此外,它可以利用X光全反射的特性进行多/单层薄膜样品的厚度、接口粗糙度与电子密度分析(X-Ray Reflection, XRR)。受限于X光的穿透力与反射特性,目前XRR的分析极限约在300nm的厚度内,粗糙度的限制必须小于5nm,非晶质亦可分析。

   


 
 

       主要应用领域:
 
       *          三晶高解析绕射分析(Triple Crystal HRXRD)
       *          结晶性分析(Crystallinity)
       *          晶粒尺寸分析(Grain Size)
       *          XRR分析多层薄膜厚度,粗糙度与密度
       *          化合物薄膜之浓度分析
       *          低掠角薄膜绕射分析(GID)
       *          粉末绕射分析(Powder XRD)
       *          晶体结构与相鉴定
       *          晶格参数分析
       *          氧化、腐蚀与薄膜镀层相鉴定
       *          RSM分析
 
欢迎前来洽询!
 

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