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可靠度技術資訊 第三期

主題:車用電子AEC-Q102概述 

  2017年3月, AEC針對光電子離散半導體元件, 制定了新的測試驗證標準AEC-Q102,包括發光二極體, 雷射元件, 光電二極體等屬之. 這個標準的制定, 可以有效改變過去此類元件參考AEC-Q101離散半導體總和測試標準, 使其有所區分, 也可減少測試項目選擇上的解讀困擾.
    與其他AEC規範定義相同, AEC-Q102的測試驗證規格, 仍以JEDEC與MIL-STD的標準為主, 並且強調家族(Family, Generic Data)的概念. 在工程變更(Process Change)上, 由於光電子元件的特性與製程差異性, 明確區分不同的類別的變更驗證項目, 更為細緻.
    此外, 在AEC-Q102中, 針對表面黏著元件(SMD), 採用焊點溫度量測(T solder)取代傳統的殼溫量測(T case), 使相關溫度的數值更正確, 量測的位置如下圖

 

  在測試數量上, AEC-Q102的測試樣品數, 雖然維持三個批數, 但測試數量較AEC-Q101減少; 驗證項目上, 本規範在各項測試項目明定實驗對象, 舉例要選擇PTC (Power Temperature Cycling) 或是IOL (Intermittent Operational Life)? 過去在AEC-Q101的說明中並無法清楚區分與選擇, 但在AEC-Q102中, 則清楚定義LED適用PTC進行測試.
    光電子離散半導體元件, 由於AEC-Q102的規範制定, 將有一套更為完整有效的測試標準作為依循. 閎康科技可靠度實驗室, 具有多年相關產業經驗, 除可提供客戶完整的量測系統與驗證服務, 並提供完整的技術諮詢. 歡迎洽詢

 

本文作者:閎康科技 可靠度測試工程處 謝翰坤

 

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