.可靠度技術資訊

可靠度技術資訊

 
 

可靠度技術資訊  第六

主題:PCB 導通孔結構強度測試

  PCB導通孔因製程方式不同有多種不同設計結構,包括傳統PTH,HDI使用的Blind Via、Stacked Via,甚至是目前手持式產品常使用的any layer HDI設計。電子產品使用上,往往不是單一的因子影響產品的使用壽命,而應用在車用PCB上,更將溫度衝擊考量其中,使其更貼近實際應用面

1.1安培(簡稱1.1A)動態低阻量測系統

  1. 因車規產品發展更加多元化及複雜,整體使用電流明顯提升。傳統的動態阻值量測機台無法提供較大電流來模擬待測物。
  2. 1.1A動態低阻量測系統,針對上述量測問題進行改良,有效將模擬實驗更貼近實際使用情況。產品在極端的冷熱衝擊環境以及持續的高電流運作下,以有效凸顯產品設計與製造風險。本公司所開發之1.1A動態低阻量測系統,搭配氣態雙槽式冷熱衝擊設備,符合國際汽車大廠的規範要求,協助您的PCB產品順利打進國際大廠。

1.1安培(簡稱1.1A)動態低阻量測系統與IST測試差異

  1. 1.1A量測系統除了阻值量測功能外,提供1.1A固定電流,並且搭配氣態雙槽式冷熱衝擊,形成複合式的溫度應力測試環境,貼近實際車用狀態。
  2. IST (Interconnect Stress Test) 透過電流控制,使產品發熱產生自身溫便循環,為高加速行驗證方式,但與實際產品使用的複合式環境有所差異。。
 

本文作者:閎康科技 可靠度技術處 謝翰坤 處長 (+886-3-6116678 ext. 6500)

可靠度技術資訊  第五

主題:高腳數靜電測試機 (ESD Tester,MK4) 應用

  IC設計功能愈趨複雜,多晶片功能SOC或SIP應用,使零件腳數不斷增加,在進行ESD測試時,常發生因設備腳數不足以支持新的IC規格而需要製作轉板因應的現象,大大的降低了實驗效率。閎康科技擁有台灣唯一最新型的ESD測試機台MK4,徹底解決了這個困擾,讓測試在最短的時間內完成,協助客戶更快進入市場

測試服務範疇

  1. 高達 2,304 pins IC ESD測試,包含HBM、MM、及Latch up等測試條件。
  2. 在 Latch up 測試中,可以支援高達七組的電源供應器。
  3. 支援暫態觸發Latch up 測試(TLU)。
  4. 內建 Curve Tracer,元件可直接於ESD測試後進行I-V量測。
  5. 於ESD測試過程中,可同步擷取 HBM / MM 加壓波形。
 

支援各類BGA封裝硬件測試,最高2304腳數

  1. BGA_48ball*48ball_1.0mm pitch
  2. BGA_48ball*48ball_0.8mm pitch
  3. BGA_48ball*48ball_0.65mm pitch
  4. BGA_48ball*48ball_0.5mm pitch
  5. BGA_48ball*48ball_0.4mm pitch

本文作者:閎康科技 靜電測試技術部 劉兆恆 先生 (886-3-6116678 ext. 6901)

 

可靠度技術資訊  第四

主題:日照與紫外光模擬試驗 (Solar and UV Test) 

  針對於戶外產品的日照制定相關試驗規範與測試方法,主要考量的有全光譜日照試驗以及破壞性較強的紫外光試驗兩項。當產品或裝備在地球表面,暴露於太陽輻射環境下,進而產生的物理化學反應(如:熱、機械、化學變化、電性)。太陽輻射試驗主要是控制試驗環境溫濕度條件下的太陽光譜能量分布與吸收的能量強度,地面太陽輻射試驗方式總共有三種程序: 程序A、熱效應評估(自然條件最嚴厲狀況),程序B、退化效應評估(每日 22.4KWh/m2),程序C、光化學效應評估。日照模擬試驗,主要針對戶外長時間使用的產業為主,例如:車用部品與材料、路燈、手機產品、GPS、LED模組、戶外面板、烤漆產品、塑膠產品、天線模組、紡織品等

  紫外線老化試驗將輻射控制在太陽光譜的紫外波段來執行試驗,主要是因為短波紫外線是造成戶外材料老化的主要因素。藉由設備將待測材料曝曬放在經過控制的陽光、濕度、溫度的交互環境中進行試驗。UV造成的材料老化包括:褪色、強度不足、龜裂、剝落等。典型應用在汽車工業、塗料、塑膠製品等。

  閎康科技採用德國最新型Vostch Sun 1000系統,可同時提供客戶全光譜以及UVA、UVB的測試服務

 
   
 

本文作者:閎康科技 可靠度測試工程處 陳亮佑 經理

 

可靠度技術資訊  第三

主題:車用電子AEC-Q102概述 

  2017年3月, AEC針對光電子離散半導體元件, 制定了新的測試驗證標準AEC-Q102,包括發光二極體, 雷射元件, 光電二極體等屬之. 這個標準的制定, 可以有效改變過去此類元件參考AEC-Q101離散半導體總和測試標準, 使其有所區分, 也可減少測試項目選擇上的解讀困擾.
    與其他AEC規範定義相同, AEC-Q102的測試驗證規格, 仍以JEDEC與MIL-STD的標準為主, 並且強調家族(Family, Generic Data)的概念. 在工程變更(Process Change)上, 由於光電子元件的特性與製程差異性, 明確區分不同的類別的變更驗證項目, 更為細緻.
    此外, 在AEC-Q102中, 針對表面黏著元件(SMD), 採用焊點溫度量測(T solder)取代傳統的殼溫量測(T case), 使相關溫度的數值更正確, 量測的位置如下圖

 

  在測試數量上, AEC-Q102的測試樣品數, 雖然維持三個批數, 但測試數量較AEC-Q101減少; 驗證項目上, 本規範在各項測試項目明定實驗對象, 舉例要選擇PTC (Power Temperature Cycling) 或是IOL (Intermittent Operational Life)? 過去在AEC-Q101的說明中並無法清楚區分與選擇, 但在AEC-Q102中, 則清楚定義LED適用PTC進行測試.
    光電子離散半導體元件, 由於AEC-Q102的規範制定, 將有一套更為完整有效的測試標準作為依循. 閎康科技可靠度實驗室, 具有多年相關產業經驗, 除可提供客戶完整的量測系統與驗證服務, 並提供完整的技術諮詢. 歡迎洽詢

 本文作者:閎康科技 可靠度測試工程處 謝翰坤

 

可靠度技術資訊  第二期

主題:GAS CORROSION TEST CHAMBER

隨著物聯網(IoT)與車聯網(IoV)的快速發展帶動下,戶外(Outdoor)電子產品品質考量更趨嚴謹,對環境中各類酸性氣體所造成產品壽命影響,透過氣體腐蝕模擬試驗,可有效協助協助產品開發中的品質驗證分析。

 
 
 符合 IEC與EIA 國際規範,對電子零組件產品耐氣體腐蝕試驗之最適宜機型。氣體濃度設定,採用新型微量氣體定量泵浦VCP-2MF 定流量混和方式,搭配內藏式冷凍機系統,有效控制實驗的精確性。Ppb等級之超低濃度,四種混合氣體(H2S、SO2、NO2、Cl2 ) 試驗等,廣範圍的溫度條件皆可安全簡單地執行。

 

 

 

可靠度技術資訊  第一

主題:零件壽命與使用不良率推估 

  對於零件的壽命估算,國際規範多以MTTF (Mean Time To Failure) 與FIT (Failure In Time)等說明之,但這些計算數據對於後段使用者而言,其所呈現的意義經常難以理解,甚至對於零件製造商所計算出之MTTF,呈現數十年甚至數百年的平均壽命年限,與實際系統使用上經常發生維修或退回率不匹配問題,感到不解。

  實際的使用者,其所期望的資料除了壽命外,則以特定時間內的不良率為最,這類資料將有助於使用者在庫存準備率以及未來RMA備料估算等。

  透過下述簡單的推算方式,可以將零件廠所提供的FIT或MTTF等資料,轉換成為熟知的ppm或不良率(Defect Rate%),如下說明:

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  從上述案例來看,即便MTTF高達一千萬小時,看似零件壽命非常耐用,但由於此屬於累計分布推估數值,故經過重新計算後,我們可以得到使用一年後所需要承擔的不良ppm數。因此在工廠的庫存備料中,可以預先準備,而此不良率,也可以做為與客戶在協商交易合約條件的參考之用。

本文作者:閎康科技 可靠度測試工程處 謝翰坤

 

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聯絡窗口(上海實驗室)

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