2017 新聞中心

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產品新訊 / 2015-03-12
對於非破壞性檢測、MEMS、3D IC、電路板失效分析,效果顯著!
活動消息 / 2017-04-07
[ LED Taiwan 2017] TechSTAGE 創新技術發表會@ 台北南港展覽館一館 4/12/2017 13:30-14:00 TEM / EDX 與SIMS 於 GaN 磊晶缺陷之分析應用 Defect Analysis of Epitaxial GaN by using TEM / EDX and SIMS 主講人: 黃明清處長 閎康科技股份有限公司 歡迎您的參與! http://www.ledtaiwan.org/zh/techstage
活動消息 / 2017-03-06
[2017 一起閎圖大展] part 2
活動消息 / 2017-01-18
[2017 一起閎圖大展]
活動消息 / 2017-01-18
[閎康科技參加 18th IC PACKAGING TECHNOLOGY EXPO] 日本年度最大 IC packaging 展, 於 1/18~1/20/2017 在TOKYIO BIG SIGHT 熱烈展開! 本次展覽為亞洲先進 IC Final Manufacturing 設備, 材料與服務之展會. 閎康科技耕耘日本市場多年,為提供更多優質的分析檢測服務給日本客戶,本次特別參與盛會設置攤位,現場派駐業務人員及技術主管,為客戶介紹閎康材料分析、故障分析、與可靠度檢測。現場詢問不斷,期待為亞洲客戶提供進一步服務~