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| 穿透式電子顯微鏡分析(TEM) |
李先生 Venson Lee |
+886-3-6116678 ext:3820 |
tem@ma-tek.com |
| 二次離子質譜儀分析(SIMS) |
黃小姐 MC Huang |
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| 聚焦式離子束顯微鏡分析 (FIB/ Circuit Repair) |
楊小姐 Ann Yang |
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| 掃瞄式電子顯微鏡分析(SEM) |
羅先生 CK Lo |
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sem@ma-tek.com |
| 化性/封裝去除/層次去除/IC拍照前處理(Chemical/ Decap/ Delayer/ IC imaging pretreatment) |
黃先生 Russell Huang |
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JB_PFA@ma-tek.com |
| 抗靜電防護測試(ESD) |
葉先生 Benjamin Yeh |
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| 打線/封裝(Wire Bonding/ Packaging) |
古先生 Eric Gu |
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| 電性故障分析/ 專案 (EFA (X-ray, SAT, EMMI, OBIRCH, C-AFM, InGaAs) Project (Total Solution Case Study)) |
黃先生 Russell Huang |
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| 可靠度分析(Reliability Testing) |
林先生 Ken Lin |
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