| 服務項目 |
聯絡窗口 |
聯絡電話 |
電子郵件 |
| 穿透式電子顯微鏡分析(TEM) |
盧先生 CA Lu |
+886-3-6116678 ext:3670 |
tem@ma-tek.com |
| 二次離子質譜儀分析(SIMS) |
黃小姐 MC Huang |
+886-3-6116678 ext:3900 |
sims@ma-tek.com |
| 聚焦式離子束顯微鏡分析 (FIB/ Circuit Repair) |
陳小姐 Anna Chen |
+886-3-6116678 ext:2630 |
fib@ma-tek.com |
| 掃描式電子顯微鏡分析(SEM) |
羅先生 CK Lo |
+886-3-6116678 ext:1600 |
sem@ma-tek.com |
| 化性/封裝去除/層次去除/IC拍照前處理(Chemical/ Decap/ Delayer/ IC imaging pretreatment) |
羅先生 CK Lo |
+886-3-6116678 ext:1600 |
JB_chemical@ma-tek.com |
| 抗靜電防護測試(ESD) |
葉先生 Benjamin Yeh |
+886-3-6116678 ext:2900 |
esd@ma-tek.com |
| 打線/封裝(Wire Bonding/ Packaging) |
古先生 Eric Gu |
+886-3-6116678 ext:6920 |
bonding@ma-tek.com |
| 電性故障分析/ 專案 (EFA (X-ray, SAT, EMMI, OBIRCH, C-AFM, InGaAs) Project (Total Solution Case Study)) |
郭先生 PS Kuo |
+886-3-6116678 ext:2300 |
HC_EFA@ma-tek.com |
| 可靠度分析(Reliability Testing) |
林先生 Ken Lin |
+886-3-6116678 ext:6600 |
ra@ma-tek.com |
| 業務部(Sales) |
林小姐 Daisy Lin |
+886-3-6116678 ext:3810 |
sales@ma-tek.com |
| 日本辦公室(Japan Office) |
周小姐 Ms. Chou |
+886-3-6116678 ext:3822 |
oversea@ma-tek.com |
| 上海實驗室(Shanghai Lab) |
朱先生 CH Chu |
+86-21-5079-3616 |
sales_sh@ma-tek.com |
|
