| Date |
Time |
Speaker |
Title |
Event |
Place |
| 2006/8/17 |
9:30-12:00 |
YF Hsieh |
FA Methodology, FA Flow, and Case Demonstration |
Foxcom |
新竹市 新安路 號 |
| 2006/8/16 |
18:30-20:30 |
YF Hsieh |
Novel ESD Testing |
Novatek |
新竹市 科學園區 創新一路 10號 |
| 2005/9/21 |
16:20-16:40 |
YF Hsieh |
奈米材料與元件之粒徑尺寸量測及元素分析 |
奈米商機論壇 – 奈米標章之促成 |
台北國際世貿大廈 1F |
| 2005/9/20 |
13:30-15:30 |
YF Hsieh |
SIMS and TEM analyses of Ion Implantation |
AIBT Internal Training Course |
新竹市 科學園區 研新一路 18號 漢民科技大樓 |
| 2005/8/26 |
13:30-15:30 |
YF Hsieh |
FIB and TEM analyses |
HERMES Internal Training Course |
新竹市 科學園區 研新一路 17號 漢民科技大樓 |
| 2005/7/21 |
16:00-17:30 |
YF Hsieh |
TEM 在奈米電子上的應用 |
ITRI/ERSO, 工研院 電子所 Internal Training Course |
新竹市 中興路 4段 195號 11館 |
| 2005/5/13 |
13:30-17:30 |
YF Hsieh |
材料分析技術簡介 |
立生半導體 Internal Training Course |
新竹市 科學園區 工業東 7路 7號 |
| 2005/4/27 |
13:30-16:20 |
YF Hsieh |
Applications of Materials Analysis and Failure Analysis Techniques in Various Industries |
電子顯微鏡應用實務研討會 |
財團法人 國家實驗研究院 儀器科技研究中心 新竹市 科學園區 研發 6路 20號 |
| 2005/12/20 |
15:45-16:10 |
YF Hsieh |
Total Solution Services of ESD Events |
2005台灣SoC推動聯盟 與IP Qualification 標準制定聯盟會員聯誼大會 |
新竹市國賓飯店 11樓 竹萱廳 |
| 2005/12/13 |
19:00-21:30 |
YF Hsieh |
創業心得分享 |
清華創業經營研習社 社團活動 |
清華大學 活動中心 |
| 2005/12/1 |
15:25-15:50 |
YF Hsieh |
Root cause identification of emitting hot spots |
The 10th Photonics and Semiconductor Device Reliability Workshop |
NDL and 國立交通大學 電子與資訊研究大樓第四會議室 |
| 2005/10/12 |
15:20-16:10 |
YF Hsieh |
材料分析在公司組織中所扮演的角色 |
清華大學 材料科學與工程學系 "材料與人生"課程 |
清華大學 材料科學與工程學系 510室 |
| 2004/9/9 |
10:30-11:00 |
YF Hsieh |
Introduction of Materials Analysis Techniques |
矽英科技 無鉛製程 研討會 |
矽英科技 |
| 2004/8/14 |
9:00-11:00 |
YF Hsieh |
集成電路製造與設計相關的故障分析方法 |
中國上海 張江高科 集成電路 行業協會 研討會 |
張江高科 集成電路 行業協會 |
| 2004/8/13 |
13:00-18:00 |
YF Hsieh |
Defect Formation and Multiplication During Si IC's Processing |
Applied Materials, China; Internal Training Course |
中國上海 張江高科技園區 應用材料中國公司 |
| 2004/7/7 |
10:30-12:10 |
YF Hsieh |
Applications of Materials Analysis and Failure Analysis Techniques in Various Industries |
IPFA 2004 Tutorial Course |
新竹市 煙波大飯店 |
| 2004/5/27,28 |
9:00-17:00 |
YF Hsieh |
材料分析技術, 故障分析技術, 可靠度測試, 與 品質保證作業 在 TFT-LCD 產業上的應用 |
ITRI/UCL, 工研院 化工所 TFT-LCD workshop |
工研院 光復院區 |
| 2004/3/26 |
14:00-16:00 |
YF Hsieh |
材料分析技術 在 IC 產業上的應用實例 |
中央大學 化工材料系 書報討論 |
中央大學 化工材料系 系館 |
| 2004/2/24,25 |
9:00-17:00 |
YF Hsieh |
材料分析技術, 故障分析技術, 可靠度測試, 與 品質保證作業 在 TFT-LCD 產業上的應用 |
中華映管 內部教育訓練課程 |
華映 龍潭廠區 |
| 2004/11/19 |
11:20-12:00 |
YF Hsieh |
Applications of Materials Analysis and Failure Analysis Techniques in Various Industries |
台灣大學 電子顯微鏡研討會 |
台北市 羅斯福路 |
| 2004/11/10 |
14:00-15:30 |
YF Hsieh |
奈 米 世 界 |
台中 塑膠中心 育成中心 教育訓練課程 |
台中 塑膠中心 |
| 2004/10/20 |
9:00-10:00 |
YF Hsieh |
FA Techniques of ESD and EOS induced defects |
ESD Conference Keynote Speech |
交通大學 |
| 2004/10/13 |
13:30-14:00 |
YF Hsieh |
電子元件與材料的分析診斷 |
國際扶輪 第 3480區 台北西區扶輪社 月會 專題演獎 |
台北市 國賓大飯店 12樓 |
| 2003/12/12 |
10:00-16:21 |
YF Hsieh |
Key Issues of Materials Investigation in Advanced IC Technology Development |
HREM Workshop |
清華大學 工學院 大會議室 |
| 2003/12/11 |
16:00-16:20 |
YF Hsieh |
IC 產品偵錯所需的分析技術 |
ITRI/STC 2003 workshop |
台北市 晶華酒店 |
copyright 2006 Materials Analysis Technology Inc. Best Viewed in MSIE.