経営理念及び会社の沿革
品質管理方針
テクニカルスタッフ
営業方針
顧客分布
サービス拠点
受賞
提携会社
Focused Ion Beam 分析
故障解析
モールド開封/層間剥離
Decap by chemical wet etching
Decap by laser etching
Delayer (chemicaldry etching and polish)
電流－電圧計測
フォトエミッション顕微鏡
光ビーム加熱抵抗変化検出法
InGaAs
Thermal Emission Microscope
Conductive-AFM
非破壊分析
光学顕微鏡(OM)
光学的形状測定(OP)
X-線検査(X-ray Examine)
超音波顕微法(Scanning Acoustic Tomography)
材料分析
試料作成
機械的研磨法
FIB精密加工
透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope)
透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope)
Osiris
走査型キャパシタンス顕微鏡
走査型電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscopy)
表面分析
二次イオン質量分析(Secondary Ion Mass Spectrometry)
X-線光電子分光法 (XPS/ESCA)
高分解能XRD
ＦＥ電子銃搭載新型オージェ電子分光分析
走査型キャパシタンス顕微鏡
SRP (広がり抵抗測定)
パッケージング/ボンディング
放電試験と対応設計
信頼性試験
製品競争力分析
IC Imaging
製品競争力分析
Project Service
Tools For Sale
申請書
証明書
ファイルダウンロード
MA-TEK FTP
財務資料
売上報告
財務報告書
年次報告
公司治理
董事會重大決議
公司治理法規
株主様向け
株式情報
株主総会
重要事項
連絡先
マーテック台北事業所が分析サービスの提供を始めました
Focused Ion Beam 分析
故障解析
非破壊分析
材料分析
表面分析
パッケージング/ボンディング
放電試験と対応設計
信頼性試験
製品競争力分析
Project Service
Tools For Sale
2013-05-27 —
マーテック台北事業所が分析サービスの提供を始めました
2013-05-29 —
Dr.SharmaはESDAよりDevice Stress Testing認証を授与されました
IC産業
‧
IC 設計応用
‧
IC 製造応用
‧
IC パッケージ/測定応用
LED
‧
Wafer Level
‧
Chip Level
太陽エネルギー
‧
Solar cell分析解決案
‧
Solar cell分析実例
其の他
(
TFT-LCD
,
CMOS Image Sensor
,
DVD
,
Nano Materials
,
HD Disk
Metal Diffusion in Glass
)
©2002~2012 Materials Analysis Technology Inc. All rights reserved TEL: +886-3-611-6678 Email:
sales@ma-tek.com
